一种系统寿命分析评估方法  

Research on System Life Prediction Approaches

作　　者：卓红艳[1] 金晓[1] 孟凡宝[1] 刘志强[1] 李旭[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900

出　　处：《工业控制计算机》2013年第7期128-129,共2页Industrial Control Computer

摘　　要：寿命参数是产品的一项重要指标,系统的寿命评估是研制单位和需求单位的一项重要任务,合理的寿命评估方法对系统寿命预测的准确性具有着重要的意义。针对目前存在部分产品存在缺乏系统级的寿命数据或无法开展系统级的寿命试验等问题,提出一种基于核心单元器件的全系统寿命评估的方法,通过确定影响全系统寿命参数的核心单元器件,并对其开展寿命分析和加速寿命试验,获得核心单元器件的寿命预估值,在零部件最短寿命法的基础上评估全系统的寿命参数。该方法具有实用价值,并通过了试验验证。One approach of system life prediction based on key apparatus is presented to solve the questions of absence of system life data and experiments of system life.By confirming the key apparatus of system which has influence on system life and analyzing life of key apparatus and do accelerated experiments,life value estimated can be obtained.Then,life of system in all can be obtained by using method of accessory minimum life.The approach is valuable of applications and verified with experiments.

关 键 词：寿命评估 核心器件 加速寿命试验 

分 类 号：TB497[一般工业技术]