检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]广东生益科技股份有限公司,广东东莞523039 [2]国家电子电路基材工程技术研究中心,广东东莞523039
出 处:《印制电路信息》2013年第8期46-49,共4页Printed Circuit Information
摘 要:文章归纳电子电路基材领域相比漏电起痕指数测试中遇到的典型案例,讨论了样品种类、样品清洁度,溶液电阻率、滴液量,电极材质、电极清洁度、电极磨损等因素对CTI测试结果的影响。In this paper,typical cases of CTI test on PCB base materials were exemplified,and the influential factors of CTI test results,including type of test specimen,surface state of test specimen;resistivity of test solution,drops of the test solution;material made of electrodes,contamination coating electrodes,and wear of electrodes were deeply discussed.
关 键 词:相比漏电起痕指数 IEC60112 GB T 4207-2003
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
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