VHF频段天线馈源测试开放远场的设计和标校  

Design and Calibration of Open Far-Field for VHF Band Antenna Feed Test

作　　者：李启明[1] 李惟韬 李洪超[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第39研究所,西安710065

出　　处：《测控与通信》2013年第2期47-51,共5页

摘　　要：针对现有测试场地无法满足VHF频段天线馈源测试要求的问题，提出1种新的开放远场设计方法。分析了天线馈源开放远场的设计内容和指标要求，并对低频段（225～400MHz）的多路径损耗、横向均匀度等性能进行标校。结果表明建造后的开放远场满足测试要求。A new design is put forward due to the test requirements of VHF band antenna feed. The design contents and the relevant index are discussed. The multiple path-loss and lateral evenness of low frequency （225MHz to 400MHz） are calibrated. Results show that the new design of open far-field meets the test requirements.

关 键 词：VHF频段 开放远场 建造方案 场地标校 天线馈源测试 

分 类 号：TN820[电子电信—信息与通信工程]