柔性薄卡元器件层关键参数的测试方法  

作　　者：陈晓童[1] 冯园园[1] 毛向荣[1] 

机构地区：[1]上海市计量测试技术研究院

出　　处：《上海计量测试》2013年第4期54-55,共2页Shanghai Measurement and Testing

摘　　要：近年来，大型会展的门票都倾向使用柔性薄卡，如北京奥运会、上海世博会、北京世界园艺博览会等。随着物联网的发展以及大型会展的后续效应，柔性薄卡的使用势必将越来越广泛。

关 键 词：测试方法 关键参数 柔性 元器件 世界园艺博览会 北京奥运会 上海世博会 后续效应 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统]