基于中间件的故障注入技术在嵌入式软件逻辑覆盖测试中的应用  

Software Implemented Fault Injection Base on Middle Layer Injection in the Application of Embedded Software Dynamic Coverage Test

作　　者：陈锃基[1] 蒋沛航[1] 刘永恒[1] 

机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所软件质量工程研究中心,广东广州510610

出　　处：《电子质量》2013年第7期70-73,共4页Electronics Quality

摘　　要：以使用中间件故障注入增加软件测试覆盖率为目的,对故障注入技术和原理进行了介绍;并通过实际工程例子提出了一种基于中间件故障注入技术的应用,同时比较了采用故障注入技术后的软件逻辑覆盖测试结果与使用常规测试手段进行的覆盖测试结果,为嵌入式软件的逻辑覆盖测试提供了一种便利、有效的方法。To increase dynamic coverage in the embedded software test in use of software implemented fault injection base on middle layer injection,it is introduced of the fault injection.Through practical project as example,it is designed of the applicable way of software implemented fault injection base on middle layer injection.At the mean time,the results are compared between the normal way and the way in the fault injec- tion in the embedded software dynamic coverage test.

关 键 词：中间件 故障注入 软件测试 逻辑覆盖测试 

分 类 号：TP311.52[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]