检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室,西安710071
出 处:《微计算机信息》2000年第5期60-61,共2页Control & Automation
摘 要:增强仪器的自动测试能力一直是工程技术人员关心的问题,特别是高性能仪器对使用者的水平要求日益提高。VEE和Libview等图形界面平台的出现,为仪器的自动控制和虚拟提供了有利的工具。本文以Hp85301b网络分析仪测试天线方向图为例,讨论了利用VEE控制仪器的方法。It is paid more attention by engineers to increase the automatical test ability of instruments. The requirements of high quality instruments to users are becoming more and more. The graphical environmemts, e.g. VEE and Libview are effective tools for developing instruments. As an example, the application of Hp85301b macrowave receiver controlled by VEE to measure antenna pattern is discussed.
关 键 词:GPIB接口 VEE图形界面 网络分析仪 数据采集
分 类 号:TP274.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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