检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:侯绪彬[1]
机构地区:[1]桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,广西桂林541004
出 处:《电子科技》2013年第9期1-3,共3页Electronic Science and Technology
基 金:国家自然科学基金资助项目(60766001)
摘 要:针对NoC测试时,如何在功耗限制下利用有限的片上资源最大化并行测试,以优化NoC测试时间的问题,文中提出一种利用云进化算法进行测试规划的方法,可以有效提高测试效率。该方法复用NoC的片上资源作为TAM,采用非抢占式测试和XY路由方式,通过云进化算法优化待测IP核在各条TAM上的分配方式寻找最佳方案。在ITC'02标准电路上的实验结果表明,该方法有效降低了测试时间,提高了测试效率。In order to reduce the test time of NoC, the problem of how to use the limited on-chip resources to maximize parallel test in power constraints is discussed. This paper presents a method for using the cloud evolution algorithm to schedule the IP cores, which effectively improves the test efficiency. The method reuses the on-chip network as TAM (test access mechanism), using non-preemptive test and XY routing mode and optimizing the allo-cation of IP cores in each TAM by the cloud evolution algorithm. Experimental results from the ITC'O2 system-on-chip benchmarks show that this method effectively reduces the test time and improves the test efficiency.
分 类 号:TP306[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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