合成碳膜电位器失效的主要模式和提高可靠性的方法  

作　　者：陆忠豪 

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1991年第1期15-19,共5页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：碳膜电位器 失效 模式 可靠性 

分 类 号：TM547.21[电气工程—电器]