信息技术设备的温度测试方法  

Temperature Rise Determination on Information Technology Equipment

作　　者：王黎雯[1] 

机构地区：[1]中国电子技术标准化研究院

出　　处：《安全与电磁兼容》2013年第4期32-34,共3页Safety & EMC

摘　　要：引言 信息技术设备在正常使用过程中,不应产生过高的温度,以避免对人体的灼伤、设备绝缘等级下降和安全元器件性能降低,甚至着火等危险。本文通过分析信息技术设备的发热原理和GB 4943.1-2011《信息技术设备安全第1部分：通用要求》对发热的要求,重点介绍了热电偶法,并以开关电源温升比对试验为实例,分析并总结了影响温度测试试验结果的若干因素。

关 键 词：信息技术设备 测试方法 温度 发热原理 设备安全 性能降低 绝缘等级 热电偶法 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]