某型射频开关质量问题分析及其启示  

作　　者：王燕[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十研究所,安徽蚌埠233010

出　　处：《机电元件》2013年第4期51-53,共3页Electromechanical Components

摘　　要：通过某射频开关失效案例进行质量调查和分析,对该产品失效原因进行确认,提出了纠正措施,并逐项落实。由此得出了有益于同行的经验教训和启示:设计是产品质量的源头,设计方案科学合理,事半功倍,设计方案不合理,遗患无穷。

关 键 词：产品设计 工艺性 失效 采取措施 

分 类 号：TN784[电子电信—电路与系统]