SSPDCCD光谱仪倍频杂光的测量与修正  

作　　者：谢兴尧[1] 张艳华[1] 

机构地区：[1]中国测试技术研究院,成都610021

出　　处：《实用测试技术》2000年第6期5-6,共2页Practical Measurement Technology

摘　　要：本文简要介绍了工作波长范围 380～ 780nm之SSPD CCD光谱仪内部倍频杂光的测量与修正方法。

关 键 词：光谱辐射计 摄谱仪 倍频杂光 修正 测量 

分 类 号：TH744.13[机械工程—光学工程]