检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:方钢
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051
出 处:《电子工业专用设备》2013年第9期55-58,共4页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:概述了Bede QC200双晶衍射仪工作原理,介绍了Bede QC200双晶衍射仪的常见故障及维修方法,实现了关键部件的元件级维修。分析表明,通过对仪器原理框图、信号流程图的了解,对测试信号进行判断,正确选择需要的测量仪器对维修很重要。指出了常见故障维修过程中如何做到思路清晰有的放矢,迅速判断故障部位所在,提高维修工作效率。This paper states the operating principle of Bede QC200 Double Crystal Diffractometer, describes the common troubles and repairing methods of Bede QC200 Double Crystal Diffractometer, realizes troubleshooting of key parts at compoment level.Analysis shows that understanding the circuit block diagram and signal flow graphs of the instrument,judging on test signals,and choosing appropriate test instruments are very important.Points out how to be clear mind and quick thinking in trouble judgment,so as to improve efficiency of troubleshooting.
分 类 号:TN605[电子电信—电路与系统]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.249