大面积高精度快速3D测试中莫尔技术的应用探索  

Exploration of Application of Moiré to 3D Surface Measurement

作　　者：王学礼[1] 李根乾[2] 赵宏[1] 谭玉山[1] 

机构地区：[1]西安交通大学激光与红外应用研究所,陕西西安710049 [2]西北工业大学,陕西西安710072

出　　处：《半导体光电》2000年第6期405-409,共5页Semiconductor Optoelectronics

基　　金：教育部"行动计划"基金资助项目

摘　　要：设计了一种全新的投影莫尔三维轮廓投影成像测试系统。去除了传统机械式相移结构 ,首次利用计算机实时控制变光源相移技术 ,大大提高了系统测试速度。创造性地采用垂直投影 ,双CCD倾斜成像机构 ,提高了光场的均匀性和可测物范围。该系统具有测试速度快 (全场测量 :4～ 8s)、测量面积大 (最大可为 30 0mm× 30 0mm)、光强照明均匀等优点 ,系统测量精度可达4 0 μm。详细分析了系统关键技术 ,并给出了具体实验结果。结果表明系统的设计原理是成功的 ,为大面积物体三维轮廓快速高精度测量提供了一种有力的手段。New structure for 3D measurement based on projection Moiré is developed.Instead of using mechanical structure for phase shifting,light variation technique is utilized,which greatly improves the speed to the order of 4～8 seconds.Two CCDs with the structure of vertical projecting and inclined imaging are used to eliminate the reflection and to get better light field.The system can measure large area (300 mm×300 mm)with the precision of 40 μm.The Experiment shows that the method is effective and satisfactory.

关 键 词：投影莫尔 三维测量 变光源 图像处理 

分 类 号：TN911.73[电子电信—通信与信息系统]