Influence of Metal Enclosure Shielding Effectiveness on Short Penetrating Conductor  

作　　者：WEI Guanghui LI Kai PAN Xiaodong LI Xinfeng 

机构地区：[1]Research Institute of Electrostatic and Electromagnetive Protection, Mechanical Engineering College, Shijiazhuang 050003, China

出　　处：《高电压技术》2013年第10期2344-2350,共7页High Voltage Engineering

基　　金：supported by National Basic Research Program of China(973 Program)(6131380301)

关 键 词：屏蔽效能 金属外壳 导体 计算机仿真技术 矢量网络分析仪 模拟系统 渗透 实验观察 

分 类 号：TN915.06[电子电信—通信与信息系统] TM153.5[电子电信—信息与通信工程]