用X射线光电子谱测定法（XPS）和俄歇电子谱测定法（AES）研究证实TiFe合金中...  

作　　者：Selvan,P 新观 

出　　处：《钒钛》1991年第1期59-62,58,共5页

关 键 词：XPS AES FiFe合金 碳化物 离子诱发 

分 类 号：TG174.442[金属学及工艺—金属表面处理]