微波炉用磁控管碳化钍钨阴极断裂失效分析  

Fracture Failure Analysis of a Magnetron Carbonized Thoriated Tungsten Cathode of Microwave Oven

作　　者：葛春桥 胡再兴 吴楚 

机构地区：[1]广东威特真空电子制造有限公司,广东佛山528311

出　　处：《真空电子技术》2013年第5期103-105,共3页Vacuum Electronics

摘　　要：本文采用扫描电镜、X射线残余应力分析仪、金相显微镜等工具分析了微波炉用磁控管碳化钍钨阴极的断裂失效机理,碳化后钍钨阴极较粗大的晶粒与内应力是其断裂的主要原因。In this paper, the fracture mechanism of the thoriated tungsten cathode is analyzed systemat-ically by SEM, metallographic analysis, X ray residual stress analyzer. Coarse grains and largeresidual stress of carbonized thoriated tungsten cathode is the main fracture reason.

关 键 词：断裂机理 内应力 阴极断裂 

分 类 号：TM925.54[电气工程—电力电子与电力传动]