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作 者:徐健[1] 陈芳慧[1] 张玉梅[1] 刘梅[1] 李海波[1]
机构地区:[1]吉林师范大学功能材料物理与化学教育部重点实验室,吉林四平136000
出 处:《吉林大学学报(理学版)》2013年第6期1143-1147,共5页Journal of Jilin University:Science Edition
基 金:国家自然科学基金(批准号:20971055;21371071);教育部科技研究重点项目(批准号:208178)
摘 要:采用直流磁控溅射方法在表面氧化的Si(001)基片上制备不同厚度的FePt薄膜,并利用原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)和振动样品磁强计(VSM)表征样品的形貌、结构和磁性.结果表明:将薄膜样品在H2气氛中经600℃退火1h,得到了L10-FePt薄膜;薄膜具有(001)织构或明显的(001)取向生长,随着沉积厚度的增加,FePt的晶粒尺寸变大,样品的有序化程度增大,(001)取向生长呈减弱的趋势;样品均具有明显的垂直磁各向异性,随着薄膜厚度的增加,平行膜面矫顽力增大,垂直膜面矫顽力先增大后减小,当沉积厚度为10nm时,样品的垂直磁各向异性最佳.FePt thin films of different thicknesses were prepared by magnetron sputtering on thermally oxidized Si substrates and annealed at 600 ℃ for 1 h in hydrogen to obtain L10-FePt films.The results of X-ray diffraction show that L10-FePt films have a (001) texture or obvious growth in (001)orientation.The grain size of FePt and the degree of ordering increase,and (001) orientation decreases with the increased deposition thickness.Magnetic data exhibit the in-plane coercivity increases,while the out-of-plane coercivity first increases and then decreases with the increased film thickness.When the film thickness is 10 nm,the sample has the most perpendicular magnetic anisotropy.
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