基于原子力显微技术的分子间相互作用的实空间观测研究  

Real-Space Identification of Intermolecular Bonding Using Atomic Force Microscopy

作　　者：裘晓辉[1] 程志海[1] 季威[2] 

机构地区：[1]中国科学院纳米标准与检测重点实验室国家纳米科学中心,北京100190 [2]中国人民大学物理系,北京100872

出　　处：《中国科学基金》2013年第6期370-372,共3页Bulletin of National Natural Science Foundation of China

摘　　要：先进的纳米表征技术有力地推动了对微观物质世界的研究和探索。例如，扫描探针显微分析技术，尤其是扫描隧道显微术（Scanning Tunneling Microscopy, STM）和原子力显微术（ Atomic Force Microscopy, AFM）赋予了科研人员在实空间看见Microscopy，AFM）赋予了科研人员在实空间看见原子和分子的能力，逐渐成为在原子和分子尺度对材料结构和性质研究的一种关键实验方法。

关 键 词：非接触式原子力显微术 qPlus型力传感器 分子间相互作用 氢键 

分 类 号：O561.4[理学—原子与分子物理]