基于电子设备的可靠性设计技术分析  

作　　者：张割[1] 马乔兵[1] 

机构地区：[1]北京航空工程技术研究中心

出　　处：《电子世界》2013年第22期9-9,共1页Electronics World

摘　　要：文中基于电子设备的可靠性设计技术,主要分析了以下内容:电子设备可靠性预计、电子元器件的选择与控制、电子元器件的降额设计、电子元器件的热设计、电子元器件的冗余设计以及电子元器件的潜电路分析等方面的内容。

关 键 词：电子设备 可靠性 降额设计 热设计 潜电路 

分 类 号：TN03[电子电信—物理电子学]