GD-MS法测定高纯钨锭中多种痕量杂质元素  

作　　者：李宝城[1] 刘英[1] 李继东[1] 童坚[1] 程紫辉[1] 张金娥[1] 臧慕文[1] 

机构地区：[1]北京有色金属研究总院,北京100088

出　　处：《矿冶》2013年第B11期149-151,共3页Mining And Metallurgy

基　　金：国家科技支撑计划项目(2006BAF07B02)资助

摘　　要：采用辉光放电质谱法(GD-MS)同时测定了高纯钨锭中66种痕量杂质元素。主要杂质元素(K,Ba等)的测定值与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)定量分析结果经F检验和T检验均验证在显著性水平为10%时,两者无显著性差异。试验表明GD-MS法对高纯钨锭的无标准样品的快速分析有较高的准确度。与ICP-MS法相比,GD-MS能直接分析固体样品,并具有分析元素多、测定范围广、检测限低、分析速度快等众多优点,已被公认为是最佳的高纯金属痕量杂质元素分析方法之一。

关 键 词：高纯钨 辉光放电质谱法 痕量元素分析 

分 类 号：O657.63[理学—分析化学]