电老化工艺对热双金属元件稳定性的影响  

The Effects of Electrical Aging Process on Stability of Thermal Bimetal Element

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作  者:鲁礼骏 靳海富 肖裕文 

机构地区:[1]德力西电气有限公司上海分公司,上海201812

出  处:《自动化应用》2013年第12期78-79,83,共3页Automation Application

摘  要:研究电老化工艺对热双金属元件稳定性的影响,通过热双金属元件的工作端初始位置变化的分析,确定其达到稳定状态所需电老化的次数及相关工艺参数。The effects of electrical aging process on stability of thermal bimetal element are studied. Through analysis of changes of working end of initial position of thermal bimetal element, the requirement of reaching the steady state of electrical aging and related process parameters are determined.

关 键 词:热双金属元件 电老化 残余应力 稳定性 

分 类 号:TM503.3[电气工程—电器]

 

参考文献:

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