RFID芯片测试系统中应用xPC实现的频谱分析  

Spectrum Analysis of the Implementation with xPC Target in the RFID IC test system

作　　者：刘春来[1] 张东[1] 史宏亮[1] 

机构地区：[1]北京自动测试技术研究所,北京100088

出　　处：《电子测试》2014年第1期53-55,共3页Electronic Test

基　　金："北京市财政资金项目"创新工程Ⅱ-2:面向物联网的超高频RFID芯片测试技术研究支持"(项目编号:PXM2013_178102_000003)

摘　　要：频谱分析在RFID芯片起着比较重要的作用,通常是采用频谱分析仪的硬件完成此工作,采用软件方法测试可加强测试系统的通用性。本文提出一种利用MATLAB的xPC目标结合Simulink程序实现频谱分析的方法,本方法能更方便的应用诸如小波分析、神经网络、模糊等智能工具箱进行信号的分析和提取。Spectrum analysis plays an important role in RFID IC test system.It is usually done using spectrum analyzer as hardware implementation,but software implementation can make testing more commonality. This paper presents a method implementation for spectrum analysis with simulink programs and xPC target.The application of this method can more convenient such as fuzzy wavelet,neural network intelligent toolbox for signal analysis and extraction.

关 键 词：频谱分析 RFID 芯片测试 XPC 

分 类 号：TP391.44[自动化与计算机技术—计算机应用技术] TM935[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]