介质损耗因数的自动数字测量系统  

作　　者：王卫舟[1] 吴集光[1] 张菊鹏[1] 祁硕[1] 

机构地区：[1]北京清华大学电机系,100084

出　　处：《电子技术应用》2001年第2期34-35,共2页Application of Electronic Technique

摘　　要：介绍了以80C196为核心的介质损耗因数自动测量系统，使用了Flash Memory和高速A／D等技术，克服了一般测量系统在反接测量时的绝缘和干扰等问题，达到了较高的测量精度。

关 键 词：介质损耗因数tgδ 闪速存储体 数字测量系统 

分 类 号：TP274.5[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]