固体继电器电气系统峰值测试仪研制与应用  

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作  者:刘超[1] 叶明生[1] 

机构地区:[1]中国电子科技集团公司第四十研究所,安徽蚌埠233010

出  处:《机电元件》2014年第1期37-39,共3页Electromechanical Components

摘  要:详细介绍固体继电器电气系统峰值测试的目的、设计原理,以及试验方法和仪器要求,重点阐述了电气系统峰值测试仪器及测试平台的实现方法与应用。

关 键 词:电气系统 峰值 测试 

分 类 号:TG172[金属学及工艺—金属表面处理]

 

参考文献:

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引证文献:

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