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机构地区:[1]华中科技大学材料学院,武汉430074 [2]武汉水电科技大学,武汉430073
出 处:《化学工程师》2000年第6期62-63,共2页Chemical Engineer
摘 要:本文用X射线衍射和扫描电镜研究了ZrO2膜的晶体结构和显微组织。结果表明ZrO2膜的相结构为立方氧化锆(c-ZrO2),晶粒尺寸细微。发现ZrO2膜中存在具有{111}面织构的柱状晶结构,这种结构可用基片负偏压消除。The crytical struture and microstructrue of ZrO2 thin film were investigated by means of x - ray diffraction and scanning electron microscopy in this paper. The result show that the crytical structure of ZrO2 film is cubic Zirconia (c - ZrO2) structure and the grain size is very fine. A Columnar structure with {111} plane texture was oberserved and it can be subdued with - 70 substrate bias.
分 类 号:TM911.3[电气工程—电力电子与电力传动] TQ134.12[化学工程—无机化工]
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