变质反应中硅氧键总平均值的变化  

作　　者：叶大年[1] 李哲[1] 赫伟[1] 

机构地区：[1]中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029

出　　处：《科学通报》2001年第1期78-80,共3页Chinese Science Bulletin

基　　金：国家自然科学基金!(批准号: 49872019)

摘　　要：以X射线单晶结构分析的精测资料为依据, 计算了33个变质反应前后的硅氧键总平均值, 得出结论：增温趋向使硅氧键长的总平均值减小, 而增压趋向使硅氧键长的总平均值加大. 这个结论在理论上的意义在于, 在硅酸盐体系中, 增温趋向使硅氧键的共价性增强, 增压趋向使硅氧键的离子性增强. 高压下四面体的硅氧键会增长, 超高压下四配位的硅会变成六配位, 硅氧键会突然大大增长, 即硅氧键的总平均随压力增加而增长, 是一个由量变到质变的过程.

关 键 词：变质反应 硅氧键长 总平均值 硅酸盐矿物 晶体化学 

分 类 号：O641[理学—物理化学]