基于动态目标阻抗的DDR3电源完整性仿真  被引量:8

Simulation on power integrity of DDR3 system based on dynamic target impedance

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作  者:李晋文[1] 曹跃胜[1] 胡军[1] 肖立权[1] 

机构地区:[1]国防科学技术大学计算机学院,湖南长沙410073

出  处:《计算机工程与科学》2014年第3期399-403,共5页Computer Engineering & Science

基  金:国家自然科学基金资助项目(60873212)

摘  要:DDR3存储器已经成为目前服务器和计算机系统的主流应用,虽然DDR3采用双参考电压、片上校准引擎、动态ODT、fly-by拓扑以及write-leveling等技术在一定程度上提高了信号完整性,但高数据率DDR3的设计实现仍然比较困难。由于DDR3总线属于高速并行总线,同步开关噪声与电源本身的噪声耦合在一起,共同影响数据信号的质量。考虑到芯片实际工作电流并非恒定不变,而是一种动态变化的频率相关源,提出了一种新的基于目标阻抗与动态目标阻抗的混合仿真与设计流程,在前仿真阶段采用恒定目标阻抗,在后仿真阶段采用动态目标阻抗为设计目标,仿真结果证实了该方法的有效性,实现了设计优化速度与精度的权衡折衷。DDR3 memory has become one of the mainstream applications in current servers and com- puter systems. Although many techniques such as dual reference voltage, dynamic on-die termination (ODT), fly-by topology and write-leveling, have been adopt by DDR3 in order to improve signal integri- ty in a certain extent, it is still difficult to design and realize high data rate. Since DDR3 is a typical par- allel bus structure, the simultaneous switching noise is couped with the original power noise, affecting the quality of data signals. Taking into account that the chip current is a dynamic changing and frequen- cy related source, the paper proposes a new mixed simulation and design procedure based on target im- pedance and dynamic target impedance. The constant target impedance is adopted in pre-simulation, while the dynamic target impedance is used in post-simulation. The trade-off between speed and accuracy

关 键 词:DRR3 DIMM 电源完整性 动态目标阻抗 

分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

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