托克马克冷屏表面超低温发射率实验研究  

Experimental study on silver plating surface emissivity of the superconducting Tokamak thermal shield at super-low temperature

作　　者：刘辰[1] 

机构地区：[1]中国科学院等离子体物理研究所,合肥230031

出　　处：《低温与超导》2014年第3期22-24,共3页Cryogenics and Superconductivity

基　　金："973"项目课题"杜瓦和冷屏设计方法研究;力学特性分析及关键制造技术研究"(2009GB101004)资助

摘　　要：采用基于傅里叶红外光谱仪的材料红外光谱发射率测试装置,对全超导托克马克装置冷屏镀银表面进行超低温(80K)发射率实验研究,得到不同镀银表面从常温到超低温条件下的表面发射率,为冷屏表面处理工艺方法提供了依据。In this paper, the silver plating surface emissivity of the superconducting Tokamak thermal shield at superlow temperature was studied based on the Fourier infrared spectrometer. Through the experiment the emissivity coefficient was a- chieved. The results will provide scientific basis for the surface treatment process of the thermal shield.

关 键 词：冷屏 傅里叶红外光谱仪 镀银表面 发射率 

分 类 号：TM26[一般工业技术—材料科学与工程]