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作 者:李忠谕 胡益丰[2] 文婷[1] 翟继卫[2] 赖天树[1]
机构地区:[1]中山大学光电材料与技术国家重点实验室∥物理科学与工程技术学院,广东广州510275 [2]同济大学功能材料研究所,上海200092
出 处:《中山大学学报(自然科学版)》2014年第2期29-32,37,共5页Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni
基 金:国家重大基础研究计划资助项目(2013CB922403;2010CB923200);国家自然科学基金资助项目(11274399;61078027;51202148);国家高技术研究发展计划资助项目(2008AA031402)
摘 要:利用对微结构变化非常灵敏的相干声子光谱技术研究了非晶N:GeSb薄膜的光致相变特征。发现当激光辐照能流达到某个阈值时,出现了一个新的声子模,表明相变的发生。同时,退火晶化的N:GeSb薄膜也出现此新的声子模,表明激光照射的确导致了薄膜的晶化。相干光学声子谱的抽运能量密度依赖实验结果表明光致晶化的N:GeSb薄膜的相干光学声子的寿命和频率均随抽运能量密度增加而减小,与晶体中的依赖关系一致。结果表明N:GeSb薄膜的光致晶化质量较好,具有相变光存储应用潜力。Laser irradiation induced phase change of a new amorphous N:GeSb film is studied by coher-ent phonon spectroscopy,which is very sensitive to its microstructure.It is found that a new coherent op-tical phonon (COP)occurs as laser irradiation fluence reaches some threshold,implying laser-induced phase change emerged.Meanwhile,this new phonon also occurs in annealed crystallized N:GeSb film, which proves that the laser irradiation does lead to the crystallization of the N:GeSb film.Pump fluence dependence of COP dynamics of laser-induced crystallized N:GeSb film shows that the frequency and life time of COP decrease as pump energy density increases,which is in accordance with the annealed crys-tallized N:GeSb film.So it implies the high crystalline quality of the laser-induced phase-change film and the potential application of N:GeSb films in optical phase change memory.
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