Dependence of Microstucture on Errors in X-Ray Diffraction Profile Measurement  

作　　者：Zeljko Skoko Stanko Popovi Goran Stefanic 

机构地区：[1]Physics Department, Faculty of Science, University ofZagreb, Bijenicka cesta 32, Zagreb 10002, POB. 331, Croatia [2]Ruder Bogkovic Institute, Bijenidka cesta 54, Zagreb 10002, POB. 180, Croatia

出　　处：《材料科学与工程（中英文A版）》2013年第10期690-697,共8页Journal of Materials Science and Engineering A

关 键 词：X射线衍射谱 测量误差 显微组织 微观结构参数 对中 X-射线 配置文件 截断误差 

分 类 号：TG146.21[一般工业技术—材料科学与工程] TF123.72[金属学及工艺—金属材料]