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机构地区:[1]中南大学地球科学与信息物理学院,长沙410083
出 处:《物探化探计算技术》2014年第1期1-8,共8页Computing Techniques For Geophysical and Geochemical Exploration
基 金:国家自然科学基金(41174105);国家深部专项(SinoProbe 03-05);国家自然科学青年基金(41204082)
摘 要:在实际应用中,层状介质往往有一定的倾斜角度,利用经典理论中的解析法求解水平地层上的视电阻率测深曲线有一定的局限性。而只有当反射系数为"1",倾斜角度为π/m;或反射系数为"-1",倾斜角度为π/2m时(m为整数),才能利用镜像法来求解倾斜接触面上的视电阻率。这里推导了倾斜接触面存在时电测深视电阻率的计算公式,给出了任意倾斜角度的接触面上测深视电阻率曲线特征,并讨论了垂直接触面上装置轴与接触面平行、斜交及垂直时视电阻率曲线的变化情况,较好地解决了陡倾接触面旁侧电阻率法推断解释中的一些实际问题。When the layered medium has dip angle,conventional theory,such as analytic method,will fail to get the apparent resistivity curves precisely,except for one case,that is when the reflection coefficient is 1and the inclined angle isπ/m(mis a integer)or when the reflection coefficient is minus 1and the inclined angle isπ/m(mis a integer).Under such conditions, imaging method can be used to get the potential and then the apparent resistivity curves.In this paper,we have deduced the calculation formula of the apparent resistivity when the layered medium has inclined angle,made generalization and summary to the apparent resistivity curves of any inclined angle.Besides,we have discussed the changes of the apparent resistivity curves when the arrangement parallels to or perpendiculars to the trend of the contact surface,even intersects at any angles,which could be used to solve practical problems,especially the explanations and speculations for resistivity method used in the area with some steep inclined contact.
分 类 号:P631.32[天文地球—地质矿产勘探]
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