基于遗传算法的容差模拟电路可行域确定方法研究  

Research on the Method of Determining the Feasible Region of Tolerance Analog Circuit Based on Genetic Algorithm

作　　者：王昉[1] 史贤俊[1] 肖支才[1] 刘陵顺[1] 

机构地区：[1]海军航空工程学院控制工程系,山东烟台264001

出　　处：《仪表技术》2014年第5期38-40,44,共4页Instrumentation Technology

摘　　要：研究容差模拟电路故障诊断的方法,在简要介绍容差模拟电路和遗传算法的基础上,探索了应用遗传算法求取容差模拟电路可行域的可行性,并通过实例分析验证了该方法的有效性。This paper researches themethod of fault diagnosis for tolerance analog circuit. The feasible region of tolerance analog circuit based on the genetic algorithm is presented. The efficiency of this method is proved throughan example.

关 键 词：容差模拟电路 遗传算法 可行域 

分 类 号：TN43[电子电信—微电子学与固体电子学]