检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:彭增伟[1,2] 姜庆华[3] 朱慧娟[2] 王晋峰[4] 刘保亭[2]
机构地区:[1]华北电力大学科技学院,保定071051 [2]河北大学物理科学与技术学院,保定071002 [3]唐山市职业技术学院机械工程系,唐山063020 [4]中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所,南京210042
出 处:《人工晶体学报》2014年第4期898-902,共5页Journal of Synthetic Crystals
基 金:中央高校基本科研业务费专项资金(13MS106);国家自然科学基金(11074063;11374086);高等学校博士点基金(20091301110002);河北省应用基础研究计划重点项目(10963525D)
摘 要:采用溶胶-凝胶的方法在(001)取向的SrRuO3/SrTiO3(SRO/STO)异质结上制备了外延BiFe0.95Mn0.05O3(BFMO)薄膜,并以氧化铟锡(ITO)作为上电极构架了ITO/BFMO/SRO型电容器。研究表明,BFMO薄膜为良好的外延生长,当波长为404 nm的紫光入射到电容器表面,产生光电导,漏电流密度变大;测试电压为5 V时,无光和光照时的漏电流密度分别为2.92 mA/cm2和10.10 mA/cm2。通过对电流密度的拟合发现:欧姆传导为外延ITO/BFMO/SRO电容器的主要漏电机制,并且光照没有改变电容器的导电机制。在紫光照射下,外延ITO/BFMO/SRO电容器的电滞回线发生变化,这是由于光照在薄膜内部产生光生载流子的缘故。由于光辐射的作用,外延ITO/BFMO/SRO电容器的电容增大。Epitaxial BiFe0. 95Mn0. 05O3(BFMO) film were fabricated on(001)-SrRuO3/ SrTiO3(SRO/ STO) hetero-structure by sol-gel method,and a capacitor with a structure of ITO / BFMO / SRO was constructed. The results show that the photoconduction was produced and the leakage current density increased when the ITO / BFMO / SRO capacitor was exposed to illumination. The leakage current density of ITO / BFMO / SRO capacitor was 2. 92 mA / cm2and 10. 10 mA / cm2measured at 5 V with and without illumination,respectively. Ohmic conduction behavior was the dominated leakage mechanism,and illumination did not change the leakage mechanism. Additionally,Illumination induced variation in the electrical hysteresis loop of ITO / BFMO / SRO capacitor,which can be explained by photo-induced carrier due to illumination. The capacitance of ITO / BFMO / SRO capacitor increases due to the illumination of purple light.
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