一氧化二氮的光电离质谱研究  

A Study of Photoionization Mass Spectrometry of Nitrous Oxide

作　　者：王映雪[1] 朱林繁[1] 刘小井[1] 江锡满[1] 苑震生[1] 杨涛[1] 徐克尊[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学近代物理系,原子分子物理实验室合肥230027

出　　处：《Chinese Journal of Chemical Physics》2001年第1期33-39,共7页化学物理学报（英文）

基　　金：国家自然科学基金!资助项目 ( 19634 0 4 0 );高等学校博士学科点专项科研基金&&

摘　　要：在入射电子能量 2 50 0eV、能量分辨 2 0 0meV的条件下测量了一氧化二氮分子在 7.8～2 4 .5eV的光学振子强度密度谱和光电离质谱 ,报道了N2 O+、NO+、O+、N2 +和N+等离子在较高能量分辨下的部分光学振子强度密度 ,首次给出了一氧化二氮分子在 13.0～ 2 1.0eV能区中性解离的振子强度密度。并在对这些数据进行分析的基础上阐述了一氧化二氮分子超激发态的不同退激发道的竞争过程。The absolute optical oscillator strengths density spectrum and photoionization mass spectrometry of nitrous oxide in the energy region of 7.8～24.5eV have been measured at an impact energy of 2500eV with the FWHM 200meV. Values of the partial photoionization oscillator strengths density of N 2O +, NO +, O +, N 2 + and N + are reported and values of the oscillator strengths density for neutral dissociation in the energy region of 13.0～21.0eV are reported for the first time. The competition among different decay channels of the superexcited states of nitrous oxide is expatiated.

关 键 词：光学振子强度 电子能量损失符合谱 一氧化二氮 电离 预解离 光电离质谱 

分 类 号：O561.5[理学—原子与分子物理]