检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:吴立敏[1]
机构地区:[1]上海市计量测试技术研究院
出 处:《中国计量》2014年第6期105-107,共3页China Metrology
摘 要:一、概述 颗粒的粒度分析方法很多。随着科技的进步。有些方法被逐步淘汰.有些方法得到了改进和发展(如激光衍射法、动态光散射法等),并在生产和科研中得到了广泛应用(如激光衍射法、显微图像法、电阻法、光透沉降法、筛分法等)。
关 键 词:粒度分析方法 激光衍射法 动态光散射法 图像法 电阻法 沉降法 筛分法
分 类 号:TB302[一般工业技术—材料科学与工程]
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