八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究  

作　　者：高力立[1] 单羽[1] 

机构地区：[1]清华大学微电子学研究所,北京100084

出　　处：《实验技术与管理》2001年第1期57-60,共4页Experimental Technology and Management

摘　　要：本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法，并对其测试矢量做了介绍。

关 键 词：八位嵌入式微处理器内核 测试矢量 测试方法 智能卡 

分 类 号：TN492[电子电信—微电子学与固体电子学] TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]