红外焦平面阵列CMOS读出电路参数的计算机辅助测试系统  

A Computer Aided System for Measuring Parameters of CMOS ROIC for IRFPA

作　　者：贾功贤[1] 袁祥辉[1] 汪涛[1] 杨菁[1] 

机构地区：[1]重庆大学光电工程学院,重庆400044

出　　处：《红外技术》2001年第2期38-40,共3页Infrared Technology

摘　　要：读出电路是红外焦平面器件研究的关键技术之一 ,本文研制出一种用于CMOS读出电路参数测试的计算机辅助测试系统。该系统可靠、精度高 ,有完整的软硬件环境 ,以适应各种读出电路的测试。Readout integrated circuit (ROIC) technology is one of the critical technologies of infrared focal plane array (IRFPA). A computer aided system for measuring the parameters of CMOS ROIC for IRFPA is developed. With high reliability and precision, integrated of environment software & hardware, the system can be applied to the test of various ROICs.

关 键 词：红外焦平面阵列 CMOS读出电路 复杂可编程逻辑器件 计算机辅助测试 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]