基于傅里叶变换条纹相位法对KTN晶体二次电光系数测量的探究  

RESEARCH ON THE MEASUREMENTS OF KTN CRYSTAL QUADRATIC ELECTRO-OPTIC COEFFICIENT BASED ON FOURIER TRANSFORM METHOD FRINGE PHASE METHOD

作　　者：崔元恺 高成勇[1] 王旭平[2] 付敏[1] 戴舒炜 

机构地区：[1]山东大学物理学院,济南250100 [2]山东省科学院新材料研究所,济南250014

出　　处：《山东师范大学学报（自然科学版）》2014年第3期65-67,共3页Journal of Shandong Normal University(Natural Science)

基　　金：山东省自然基金资助项目（ZR2013AM020）.

摘　　要：基于在三维形貌测量中广泛使用的傅里叶变换轮廓法，提出了一种测量KTN晶体二次电光系数的新的方法，并设计了基于麦克尔逊干涉的实验平台，进行了多次试验，得到了KTN晶体二次电光系数张量矩阵三个独立分量中的确定值。We proposed a new method to measure Quadratic electro-optic coefficient in KTN crystal based on Fourier transform profilometry method widely used in 3 D topography measurement.We designed an experiment platform based on Michelson interferometer,one of the three independent components ---h1 1 in KTN crystal quadratic electro-optic coefficient tensor matrix was calculated.

关 键 词：二次电光系数 傅里叶变换 KTN晶体 

分 类 号：O438.2[机械工程—光学工程]