基于虚拟仪器的晶体管特性测量系统  

Transistor Characteristics Measurement Based on Virtual Instrument Technology

作　　者：李丽娜[1] 梁徳骕 涂志[1] 樊媛媛[1] 

机构地区：[1]辽宁大学物理学院,辽宁沈阳110036

出　　处：《辽宁大学学报（自然科学版）》2014年第2期117-121,共5页Journal of Liaoning University：Natural Sciences Edition

基　　金：辽宁省教育厅科学技术研究项目(L2013003)

摘　　要：为了提高晶体管特性测量的操作简易性,利用虚拟仪器技术设计了一套晶体二极管和晶体三极管的特性测量系统.解决了测量的发生信号同步生成、电压数据同步采集、特性曲线直观显示等问题.文章主要介绍系统的框图结构、采集卡的接线方式、和信号的同步生成与采集.By using LabVIEW as the software, the system was designed in order to improve the operation of the transistor characteristics measurement. The system solves the measurement which synchronizing signal generating and acquisition, and visual display of characteristic. This paper describes structure diagram of the system, acquisition card wiring, and synchronizing signal generation and acquisition.

关 键 词：晶体管特性 虚拟仪器 LABVIEW 信号生成 数据采集 同步 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统] TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]