X射线法测量多晶材料残余应力  

Measuring of Residual Stress of Polycrystalline Materials by XRD Method

作　　者：罗玉梅[1] 任凤章[1] 张伟[2] 张旦闻[2] 田保红[1] 魏世忠[1] 苏娟华[1] 

机构地区：[1]河南科技大学材料科学与工程学院,洛阳471023 [2]洛阳理工学院机电工程系,洛阳471023

出　　处：《材料导报》2014年第11期112-114,127,共4页Materials Reports

基　　金：长江学者创新团队发展计划项目(IRT1234);河南省科技创新杰出人才支持计划(144200510001);河南省基础与前沿技术研究计划项目(112300410002);河南省重点攻关(092102210012)

摘　　要：简要介绍了机械工件(或构件)的残余应力的来源及其对机械工件使用寿命的影响。概述了晶体残余应力测量中的有损检测和无损测量各自所包括的具体测量方法以及各测量方法的特点和适用情况。重点阐述了X射线法测量残余应力的基本原理、特点和测量时应注意的问题。The origin of residual stress in the mechanical parts （or components） and its influences on the service life of the mechanical parts are briefly introduced.The concrete measuring techniques in nondestructive and destructive detection technologies,and their characteristics and applicability are also briefly outlined.The measurement principle and characteristics of XRD method are stressed,including the points for attention in measurement.

关 键 词：X射线法 残余应力 测量原理 测试方法 

分 类 号：TG115.28[金属学及工艺—物理冶金]