射线检测暗室处理对射线底片质量的影响因素及控制措施  

作　　者：陈洪旭 

机构地区：[1]佳木斯市特种设备检验研究所

出　　处：《中小企业管理与科技》2014年第19期323-324,共2页Management & Technology of SME

摘　　要：通过对暗室处理过程中影响因素的分析及控制措施,提高射线底片质量。

关 键 词：暗室处理 影响因素 控制措施 

分 类 号：TB302.5[一般工业技术—材料科学与工程]