紫外-近红外光谱响应测量分析系统  

A Measuring and Analyzing System for Spectral Response Ranging from Ultraviolet to Near-infrared Band

作　　者：王成福[1] 韩杰[2] 徐汉成[3] 

机构地区：[1]金华职业技术学院电子工程系,金华321017 [2]浙江大学信电系,杭州310027 [3]南京电子器件研究所,南京210016

出　　处：《光电子技术》2001年第1期62-66,共5页Optoelectronic Technology

摘　　要：简述了一种比传统测试方法具有更高精度的紫外 -近红外光谱响应测量分析系统。分析了系统的硬件构成及软件设计过程 ,并给出了实验测量结果。In this paper, we introduce and analyze the hardware constitution and software design of the optical spectral response measuring and analyzing system which has higher measuring accuracy than traditional ones. The measuring results are given, too.

关 键 词：光谱响应 测量 分析系统 紫外线 近红外线 

分 类 号：TN21[电子电信—物理电子学] TN23