一种新的LSI/VLSI电路测试方法  

A NEW TESTING APPROACH TO LSI/VLSI CIRCUITS

作　　者：高建华[1] 

机构地区：[1]中国纺织大学计算机科学与工程系系统结构教研室

出　　处：《中国纺织大学学报》1995年第1期116-123,共8页Journal of China Textile University

摘　　要：本文提出一种根据输出端值的变化频度测试LSI/VLSI电路I/O线上的固定故障的方法。该方法的优点是不需待测电路功能函数,也不需标准电路作比较。文章同时讨论用软件和硬件的实现方法。Based on testing the altering frequency of output values, a high efficient approach is presented in this paper to detect stuck-at faults on I / O linesof LSI / VLSI chips. It is interesting that the approach performed in this way works efficiently without knowing the detailed implementation of circuits under testing. The method of designing the testers is also discussed in this paper.

关 键 词：LSI VLSI 集成电路 测试 

分 类 号：TN470.7[电子电信—微电子学与固体电子学]