ASIC设计中测试矢量产生与验证  

Test vectors generation and verification in ASIC design

作　　者：居水荣 

机构地区：[1]无锡华晶矽科微电子有限公司设计所,江苏无锡214061

出　　处：《半导体技术》2001年第3期42-47,共6页Semiconductor Technology

摘　　要：介绍了ＡＳＩＣ设计过程中测试矢量的产生与验证步骤，包括激励编写规则、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。The test vectors generation and verification in ASIC design are introduced, including stimulus writing guidelines, waveform audit, vectors strobe and simulation used for test vectors.

关 键 词：专用集成电路设计 验证 测试矢量 激励 波形 

分 类 号：TN492.02[电子电信—微电子学与固体电子学]