单片机系统中数据存储的可靠性研究  

The Research of Data Store Reliability in Single Chip Microcomputer

作　　者：余宏伟[1] 游大海[1] 尹项根[1] 乔霄峰[1] 

机构地区：[1]华中科技大学电力系,武汉430074

出　　处：《电子工程师》2001年第4期9-11,共3页Electronic Engineer

摘　　要：详细介绍了影响单片机系统数据存储可靠性的原因 。The cause of data store fallibility in single chip microcomputer system is detailedly introduced in this paper. It offers some available method to increase the data store reliability in single chip microcomputer with the hardware and software.

关 键 词：单片机 数据存储器 数据可靠性 数据校验和 干扰 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]