可变频率时钟发生器及其测试技术  

作　　者：李国机 王文光 

机构地区：[1]上海冶金所微电子分部,上海200233

出　　处：《微处理机》1996年第1期92-93,共2页Microprocessors

摘　　要：本文介绍可变频率时钟发生器的逻辑结构、测试技术及编程。

关 键 词：可变频率 时钟发生器 测试 集成电路 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]