微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究  

Scanning parameter measurement and projected image correction for microfocus X-ray imaging system

作　　者：倪建平[1] 李政[1] 白宏涛[1] 刘亚强[1] 程建平[1] 高文焕[1] 康克军[1] 

机构地区：[1]清华大学工程物理系,北京100084

出　　处：《核电子学与探测技术》2001年第3期165-168,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：国家自然科学基金资助项目 !( 1970 50 0 6)

摘　　要：微焦点 X射线成像系统由于被重新安装以及初始化 ,导致系统参数读数与实际值之间存在偏量。给出了测量这些偏量值的基本原理和方法 ,并通过实验求出偏量值。由于图像增强器与图像获取装置本身固有特点以及非线性获取成像 ,投影图像存在几何畸变。讨论了图像几何畸变校正的基本原理 。Because of the reinstalling of microfocus X ray imaging system there will be certain deviation the inherent characteristics of the image intensifier and the image acquisition device, the acquired projected image is geometrical distorted, this debases the accuracy of the reconstructed image in three dimensional CT. The current paper dicusses the basic principle of how to solve the precise measurement and calculation of FOD, FDD, and the correction of the geometrical distortion of the projected image.

关 键 词：微焦点X射线成像系统 扫描参数 空间畸变 测量 投影图像 校正 

分 类 号：TL82[核科学技术—核技术及应用]