SM1021C型二极管自动测试仪V_R测试重复性差的故障分析  

作　　者：顾约平 翁寿松 

机构地区：[1]无锡市元件四厂

出　　处：《电子工业专用设备》1993年第2期21-23,共3页Equipment for Electronic Products Manufacturing

摘　　要：本文对进口SM1021C型自动测试仪V_R测试重复性差的故障进行了分析,并提出改进措施,实施后故障消失。对测试非线性半导体器件时,出现类似V_R测试重复性差的故障进行了总结,并提出解决办法。

关 键 词：二极管 自动测试仪器 故障分析 重复性 SM1021C型 

分 类 号：TN31[电子电信—物理电子学] TN383.1