直接电位分析法的定位校准和斜率校准  

Orientation and Slope Calibration in Ion- selective Electrode Potentiometry

作　　者：黄淑英 林竹光[2] 梁榕源[2] 李小波[2] 

机构地区：[1]厦门市卫生防疫站,厦门361004 [2]厦门大学化学系现代分析科学教育部重点实验室,厦门361005

出　　处：《大学化学》2001年第3期59-62,共4页University Chemistry

摘　　要：本文阐述了直接电位分析法定位和斜率校准的理论与测量原理。Eemf pM标准曲线法不必考虑定位和斜率校准问题 ;单点定位pMX 直读法 ,只进行定位校准 ,没有完全校正电极理论与实际斜率不一致所产生的测量误差 ;双点定位pMX 直读法在pMS1～pMS2 之间同时进行定位与斜率校准 。

关 键 词：直接电位分析法 定位校准 斜率校准 离子选择性电极 

分 类 号：O657.1[理学—分析化学]