微机低励失磁保护阻抗特性曲线的两种测试方法  

Two testing ways to test the impedance characteristics of microprocessor based loss-of-excitation protection

作　　者：陈新美[1] 李亚萍[1] 赵丽萍[1] 

机构地区：[1]国家继电器质量监督检验中心,河南许昌461000

出　　处：《继电器》2001年第6期43-44,48,共3页Relay

摘　　要：介绍了微机低励失磁保护的基本原理 ,提出了两种测试低励失磁保护阻抗特性曲线的试验方法 ,并通过试验验证 ,证明了这两种方法的可操作性。The basic principle of the microprocessor based loss-of-excitation protection is introduced in this paper and two testing ways to test the impedance characteristics of the protection are presented. The testing shows they are available and practical.

关 键 词：低励失磁保护 阻抗特性曲线 微机保护 电力系统 继电保护 测试 

分 类 号：TM774[电气工程—电力系统及自动化]